摘 要： 在基于SIP的现场可编程门阵列（FPGA）性能参数验证测试时，驱动电压测试会受到多种因素的影响，如PCB线阻、插座信号损耗以及测试温度等，这些因素导致ATE测试的实测值与真实值之间存在偏差。为了提高驱（试读）...
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