摘 要：该文提出一种新型检测显微样本光学参数的方法，将显微数字全息术与相位解包裹的方法相结合，搭建实验光路并编写相关算法，从而由数字全息图像获得光场物体振幅及相位信息，利用折射率计算可以得到微米级（试读）...
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