• 简体   /   繁体
基于YOLOv12改进的绝缘子缺陷检测模型及标签驱动的调度-现代电子技术2026年20期

基于YOLOv12改进的绝缘子缺陷检测模型及标签驱动的调度

作者: 聂峥 ,邱臻 ,陈建铭 ,陈楠星 ,陈卫民 字体:小   中   大

Improved insulator defect detection model based on YOLOv12 and label-driven scheduling

Nie Zheng 1 , Qiu Zhen 1 , Chen Jianming 1 , Chen Nanxing 2 , Chen Weimin 2

(1. Zhejiang Huayun Information (试读)...

现代电子技术

2026年第20期